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Calibration Standard for High-Resolution X-Ray Diffraction (200 mm Wafer) 校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)高分...

Name: Calibration Standard for High-Resolution X-Ray Diffraction (200 mm Wafer) 校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)高分...
Availability: InStock

更新時(shí)間：2025-09-25

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廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商

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產(chǎn)品介紹：

Calibration Standard for High-Resolution X-Ray Diffraction (200 mm Wafer)
校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)高分辨率x射線衍射(200 mm晶圓)（信息以英文名稱為準(zhǔn)）

目錄號(hào)：NIST-SRM2012	CAS：
分子式：	分子量：
品牌：	純度：

規(guī)格	市場(chǎng)價(jià)(RMB)	優(yōu)惠價(jià)(RMB)	貨期	備注
wafer	171376	請(qǐng)?jiān)儍r(jià)	3-4周	In-Stock

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